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它融合了数字扩频、数字信号和前向纠错编码技术，拥有前所未有的性能。此前，只有一些事通讯系统中才会融合这些技术，而随着LoRa的引入，嵌入式无线通信领域的局面发生了的改变。：支持LoRa调制技术的无线产品前向纠错编码技术是给待传输数据序列中增加了一些冗余信息，这样，数据传输进程中注入的错误码元在接收端就会被及时纠正。这一技术减少了以往创建“自修复”数据包来重发的需求，且在解决由多径衰落引发的突发性误码中表现良好。
汽车供电系统输出复杂，大电流马达、电磁阀等各种元件导致供电电压输出经常发生波动，大电压脉冲或跌落现象频繁发生，对车内电子产品能否稳定工作造成挑战。为方便汽车电子行业相关产品的测试，业界有一些通用的标准，汽车电子产品的生产企业使用这些标准中所规定的测试波形进行产品测试。目前，针对于汽车电子，艾德克斯的是基于ISO1675-2（道路车辆电气电子设备的环境条件和试验第2部分：电气负荷）和DIN4839（汽车中的电磁兼容性，12V和24V辅助电路中供电线的导线扰动量）标准，针对汽车在复杂工况下以及汽车电源异常时，车载电子设备稳定性的测试解决方案，可测试对象包括电动车窗、雨刮器、车载音响设备等众多汽车电子电器。
现代生活日新月异，人们一刻也离不电。在用电过程中就存在着用电安全问题，在电器设备中，电机、电缆、家用电器等。它们的正常运行之一就是其绝缘材料的绝缘程度即绝缘电阻的数值。当受热和受潮时，绝缘材料便老化。其绝缘电阻便降低。从而造成电器设备漏电或短路事故的发生。为了避免事故发生，就要求经常测量各种电器设备的绝缘电阻。判断其绝缘程度是否满足设备需要。普通电阻的测量通常有低电压下测量和高电压下测量两种方式。
由于并行任务调度规划并不是固定的，在测试运行之前，软件无法确定测试任务的执行次序，从而也就无法确定测试通道的打通次序。那么，只能在测试任务运行时，根据UUT端口和被测参数来动态建立信号链路，并打通相应的通道。并行测试解决思路并行测试技术是对传统串行测试技术的突破和超越，思维方式与解决途径都发生了较大的变革，在大幅度提高测试效率的同时也带来了较多的挑战，下面逐一介绍解决思路。测试资源竞争和死锁问题解决思路概括起来讲，测试资源竞争问题解决思路就是八个字“用时申请，用后归还”。
x1档结构模型当信号频率升高时，探头的容性负载效应就变得更加显著。x1档位输入电容通常为55±10pF，此时等同于在被测电路上加了一个低阻抗负载，在输入电容为50pF时，若测试10MHz的信号，根据容抗计算公式：Xc(Cp)=1/（2×π×f×C），此时容抗约为318Ω，且x1档时带宽较低，测试出的结果是不准确的。调整探头档位的原因下图是无源电压探头x10档的原理图，其中，Rp(9MΩ)和C1位于探头 内，调节补偿电容C3使得探头和示波器通道RC乘积相匹配，这样就能保证显示出来的波形正常，不会出现过补偿或欠补偿状况。
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USSD卡、MMC卡、DVI/HDMCAN等接口，因为用户使用中经常性热插拔，板上的芯片非常容易受静响。这样对于接口就要加上保护器件防止损坏芯片。USB1.USB2.、SD卡、MMC卡等接口，因为用户使用中经常性热插拔，板上的芯片非常容易受静响。这种应用场合不能使用普通的稳压管等信道进行保护，因为稳压管的反应速率太慢、且容性负载较大，会影响信道上的数据通信。NXP特以下方案供客户参考。
